

INVOUS 平面平晶 IS750-82468 规格尺寸φ300mm 高度40mm 精度1级 1块
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商品介绍
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产品特点:
·平面平晶是以光波干涉原理为基础,利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度
·以及检验块规、量规、零件密封面测量仪器及测量工具量面的研合性和平面度的工具
·适用于光学加工、企业计量室、精密加工车间现场检测使用等检测
·以及检验块规、量规、零件密封面测量仪器及测量工具量面的研合性和平面度的工具
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